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电子半导体/钕铁硼、稀土材料、光伏组件关连仪器--欢迎索取资料 主要特点和配置: 自然对流的电子控制,内腔预热技术 环境温度以上5℃至300℃ 型号:RHD-45 ※内部尺寸: 400×450×400(W*D*H)mm ※工作温度范围:常温~80℃。 ※升温速率:1℃/分钟 光照培养检测测试箱 机器精度: ※控制精度:±1.0℃ ※温度均匀度:≤±5℃(在负载情况下恒温三小时所测得) ≤±7℃(在负载情况下恒温一小时所测得) ※温度波动度:≤±2℃ ※产品的放置方法符合相应标准。 机械板金结构: ※内箱材质:彩钢板,厚0.5mm ※外箱材质:彩钢板,厚0.5mm ※保温材质:高密度之玻璃纤维棉,厚75mm。 风路机件 ※采用循环长轴心风扇马达与耐高低温多翼式结构循环风扇,以达强制对流垂直扩散循环。 ※.风道在部,两边出风,中间回风。 ※附有照明设备。 ※具有一个测试孔(φ50mm)可外接测试电源线或信号线使用。 ※测试门与机体采双层耐高低温之高张性硅胶,以确保室内之密闭。 ※单门尺寸90㎝×180㎝(W×H),双门打开。 ※观察窗口采用双层玻璃 ※试验室有底板,承重100KG/M2
加热系统: ※采用高速加温电热器。 ※温度控制输出功率均经由微电脑演算,以达高精度与高效率之用电效益。
光照培养检测测试箱 控制系统 ※采微电脑控制方式。 ※温度传感器采用PT-100传感器。 ※温度控制均采用P.I.D.+S.S.R.系统控制,可提高控制组件与接口使用之稳定性及寿命 ※输出功率12V ※触摸式设定、数字直接显示,所有条件*由微电脑自动锁定。 ※具有P.I.D.自动演算之功能,可减少人为设定时所带来之不便。 ※温度控制为两组独立。 ※计时器,温到计时,时到报警。 光照培养检测测试箱 相关标准为: ※《电工电子产品环境试验》GB/T2423.2-2001 ※《低压配电设计规范》GB50054-95 ※《供配电设计规范》GB5002S2-95 ※《电气装置安装工程接地装置施工及验收规范》GB50169-92 ※《通风与空调工程施工质量验收规范》GB50243-2002
老化房,又叫烧机房,是针对高性能电子产品仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备,是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量www.asliest.com茄子短视频在线下载污放眼,不断研制性能更*,耐久性可靠性更高,操作更方便.
安全保护系统 ※附有有熔丝保护开关。 ※超温、机器警示灯指示(声光报警),自动关机 ※风扇马达加装过电流保护器。 ※缺相保护 ※整机电源:三相AC 380V.功率:15KW 标准统一 老化房产品,在系统结构及设计原理中,充分考虑到所涉及领域的相关标准,包括本体标准、电子电工标准等。
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