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    荧光膜厚计

    更新时间:2024-06-24

    荧光膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

    荧光膜厚计特点:


    中文视窗操作测量系统
    解析度0.001um, 小测量面积0.1mmΦ
    可测量合金层之厚度和组成比例
    可测量两层以上镀层之个别厚度
    藉由光谱分析可判定被测物之元素
    适用对象:1C导线架,封装业、PCB业、精密零
    件业、电镀业、电子业。

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

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